Sistemul de testare LIBS cu rezoluție spațială la scară micron - MEEPLIBS
MEEPLIBS poate face analiza elementară a rezoluției spațiale la scară de microni, realizând o combinație cu realizarea microscopului tradițional, cu dimensiuni standard de calibre de analiză de 15 și 18 microni (zui mici pot ajunge la 4 microni), care pot fi testate la temperatura camerei și în medii specifice.
Aplicat pe scară largă în analiza elementară în timp real a rezoluției spațiale la scară micron a materialelor semiconductore și a materialelor de panou.
Caracteristici ale sistemului:
Sursă de lumină: 266nm laser ultraviolet
Modelarea fasciculului laser cu attenuator, software-ul de putere laser reglabil
Controlul automat al temperaturii pentru sistemul de detectare
Configurarea camerei în sistem pentru ca utilizatorul să poată observa în timp real zona probei testate
Configurarea unui regulator electric 3D pentru calibrarea poziției de focalizare a laserului, îmbunătățirea preciziei repeatabilității experimentelor și măsurarea în secvență a eșantioanelor
Poate analiza toate elementele de măsurare, inclusiv masura zui ușoară
Fără prelucrare a eșantionului, detectare rapidă